Главная » 2016 » Март » 7 » Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
09.09.07
Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов.
Название: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля Авторы: Д. Брандон, У. Каплан. Издательство: Техносфера Год издания: 2004 Страниц: 384 Язык: Русский Качество: хорошее Формат: DjVu Размер: 12,6 Mb Скачать: Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
